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簡要描述：手持式合金光譜分析儀用于礦業(yè)、地質科研及技術人員快速識別貧礦、富礦，在礦山繪圖、品位控制、巖心檢測、礦脈勘探、尾礦處理及礦石交易等領域。
產(chǎn)品型號：F2-7000廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-11-24訪 問 量： 3549產(chǎn)品分類
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| 品牌 | I-CHEQ/艾克 | 行業(yè)專用類型 | 地質巖礦 |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 高靈敏度Si-Pin探測器；（解析度≦180eV）eV | 元素分析范圍 | 快速分析從鈦（Ti）到钚 (Pu)之間的二十五種以上元素的含量 |
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 手持式/便攜式 |
| 應用領域 | 環(huán)保,地礦 |
手持式合金光譜分析儀用于礦業(yè)、地質科研及技術人員快速識別貧礦、富礦，在礦山繪圖、品位控制、巖心檢測、礦脈勘探、尾礦處理及礦石交易等領域。
手持式合金光譜分析儀可以快速分析從鈦（Ti）到钚 (Pu)之間的二十五種以上元素的含量。
產(chǎn)品參數(shù)
| 技術參數(shù) | 重量 | 基本重量不超過1.4kg； |
| 尺寸 | 300mm x 90mm x 220mm；(長寬高) | |
| 激發(fā)源 | 大功率高性能X射線管； | |
| 靶材：5種可選擇 金（Au）、銀（Ag）、鎢（W）、鉭（Ta），鈀（Pb）； | ||
| 電壓：50kv； | ||
| 濾波器 | 多種濾波器可選擇，根據(jù)不同的被檢測物自動調節(jié)； | |
| 探測器 | 高靈敏度Si-Pin/SDD探測器；（解析度≦180eV） | |
| 探測器制冷溫度 | Peltier效應半導體制冷,制冷溫度-35℃； | |
| 標準片 | 外置316標準片/窗口保護蓋； | |
| 處理器 | SAMSUNG 800MHz高性能處理器； | |
| 操作系統(tǒng) | Microsoft Windows CE系統(tǒng)； | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 8G大容量數(shù)據(jù)存儲卡：≥40000組數(shù)據(jù)及光譜圖； | |
| 數(shù)據(jù)分析 | 搭載專業(yè)智能分析軟件，具有智能化、速度快、操作簡單等優(yōu)點。整個分析過程僅需數(shù)秒便可完成； | |
| 數(shù)據(jù)顯示 | 精確到百分比（％）顯示，光譜或峰強度（計數(shù)率）或； | |
| 數(shù)據(jù)傳輸 | 手機4G、共享熱點、WiFi與手機APP進行數(shù)據(jù)傳輸； | |
| 顯示屏 | 彩色，高分辨率3.5寸TFT工業(yè)級觸摸屏，任何光線條件下清晰可見；大圖標圖形界面； | |
| 外形設計 | 一體化機身設計，堅固、防水防塵及防凍，有效防振，適應潮濕或低溫等野外環(huán)境使用； | |
| 安全操作 | 一觸式“扳機”，軟件具有自鎖和防空測等保護功能； | |
| 分析元素 | Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、 Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素 | |
| 測試環(huán)境條件 | 溫度-20～+40℃，濕度＜80%RH。 | |
| 售后服務 |
| |
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